4探針STMの開発と表面電子輸送の測定

電子顕微鏡

Print ISSN : 0417-0326

4探針STMの開発と表面電子輸送の測定

長谷川修司, 白木一郎, 田邊輔仁, 保原麗, 金川泰三, 松田巌

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キーワード: STM, 4端子プローブ法, 表面電気伝導, 表面超構造, 表面電子状態

ジャーナルフリー

2003 年 38 巻 1 号 p. 36-41

DOI https://doi.org/10.11410/kenbikyo1950.38.36

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